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JEOL:推出新型电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和J

- 集成式EPMA的演进 -

东京--(美国商业资讯)--日本电子股份有限公司(JEOL Ltd., TOKYO:6951)(总裁兼首席运营官:Izumi Oi)发布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微阐发仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微阐发仪JXA-iSP100。

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产品开拓背景

在钢、汽车、电子零件和电池材料等广泛工业领域中,电子探针显微阐发仪(EPMA)用作研发和质量节制对象。此外,在学术领域,EPMA利用于地球与行星科学和材料科学,不仅涵盖矿物能源钻研,而且涉及新型材料钻研,从而为各类尖端钻研做出供献。跟着EPMA利用的增添,EPMA用户必要具有高可操作性的简单快速的阐发,同时也要在特定感兴趣区域维持高质量的痕量元素阐发机能。

为满意这些需求,从察看(光学和SEM图像)到阐发,JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支持与波长色散X射线光谱仪(WDS)、能量色散X射线光谱仪(EDS)、阴极发光(CL)及其他技巧的无缝集成。

主要特点

集成EPMA可实现简单快速的操作

高通量

任何人都能以高精度履行从试样送入到阐发区域确定的无缝操作。

高准确度阐发

集成式EPMA系统让任何人都能够以更高的准确度和正确度以及更快的功能,更快、更轻松地获取阐发数据。

易于掩护

因为仅在必要时才自动履行掩护,是以每小我都可以将EPMA系统保持在最佳状态。

JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可扩展性。其不仅可用于WDS和EDS系统,而且可结合软X射线发射分光仪(SXES)进行化学状态阐发,结合电子背散射衍射系统(EBSD)进行晶体取向阐发,以及整合阴极发光检测器(CL)用于广泛利用中的多样化阐发。

备注:EPMA是“电子探针显微阐发仪”(Electron Probe Microanalyzer)的缩写。

年度单位贩卖目标

70套/年

日本电子股份有限公司

3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan

Izumi Oi,总裁兼首席运营官

(股票代码:6951,东京证券买卖营业所第一部)

www.jeol.com

免责声明:本看护布告之原文版本乃官方授权版本。译文仅供方便懂得之用,烦请参照原文,原文版本乃独一具司法效力之版本。

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CONTACT:

日本电子股份有限公司

科学与丈量仪器贩卖部

Yusuke Harano

+81-3-6262-3567

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JXA-iHP200F (Photo: Business Wire)

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